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產(chǎn)品中心
致力于光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試四大領(lǐng)域測試儀器和設(shè)備的開發(fā)，并提供高端測試硬件及軟件系統(tǒng)整體解決方案。
光通信網(wǎng)絡(luò)作為信息通信的基礎(chǔ)設(shè)施，對我國大數(shù)據(jù)、云計算、5G通信等市場的快速發(fā)展起重要的承載支撐作用，聯(lián)訊儀器光通訊儀表深度覆蓋光模塊光器件等核心產(chǎn)品的測試測量，包括采樣示波器，誤碼儀，波長計，光譜儀，流量儀以及通用光測量儀表等，提供經(jīng)濟高效的完整解決方案。
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高精度源表集合電壓源、電流源、電壓表、電流表、電子負(fù)載的功能于一身，廣泛應(yīng)用于各類分立元器件，光伏，新能源，電池等行業(yè)的高精度測試測量，聯(lián)訊儀器提供高精度的臺式源表及標(biāo)準(zhǔn)PXIe機箱的插卡式PXIe源表模塊，充分滿足各種不同測試場景的應(yīng)用。
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激光器的老化及測試是保障激光器可靠性的重要方法，通過對CoC或者裸Die的測試，提早篩選出激光器生產(chǎn)過程中由于工藝工序的缺陷導(dǎo)致的早期失效產(chǎn)品。聯(lián)訊儀器提供從裸Die到CoC，從高溫到低溫-40℃的完整解決方案。聯(lián)訊儀器的激光芯片老化測試方案已獲得市場廣泛認(rèn)可。
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半導(dǎo)體前道檢測主要用于晶圓加工環(huán)節(jié)，目的是檢查每一步制造工藝后晶圓產(chǎn)品的加工參數(shù)是否達(dá)到設(shè)計的要求或者存在影響良率的缺陷，半導(dǎo)體后道測試設(shè)備主要是用在晶圓加工之后、封裝測試環(huán)節(jié)內(nèi)，目的是檢查芯片的性能是否符合要求，屬于電性能的檢測。聯(lián)訊儀器提供晶圓老化及半導(dǎo)體參數(shù)測試機等集成解決方案，打破了國外企業(yè)的長期壟斷，不斷提升國產(chǎn)半導(dǎo)體設(shè)備的進(jìn)口替代率。
DetailsSolution
Solution
解決方案
致力于光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試四大領(lǐng)域測試儀器和設(shè)備的開發(fā)，并提供高端測試硬件及軟件系統(tǒng)整體解決方案。
蘇州聯(lián)訊儀器成立于2017年，由一批從事光通信和半導(dǎo)體測試技術(shù)研究多年的高級專家創(chuàng)辦，致力于光網(wǎng)絡(luò)測試、光芯片測試、電性能測試和功率芯片測試四大領(lǐng)域測試儀器和設(shè)備的開發(fā)，并提供高端測試硬件及軟件系統(tǒng)整體解決方案。公司可以提供包括寬帶采樣示波器、高速誤碼儀、網(wǎng)絡(luò)流量測試儀、高精度快速波長計、精密數(shù)字源表、低泄漏矩陣開關(guān)等高端測試儀器，以及高速光電混合ATE、半導(dǎo)體激光器CoC老化、裸Die芯片測試、硅光晶圓測試、SiC晶圓老化、SiC裸Die 功率芯片KGD測試分選、WAT晶圓允收測試系統(tǒng)、WLR/PLR可靠性測試系統(tǒng)等高端測試設(shè)備。
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58.6%
研發(fā)人員占比
注重研發(fā) -
400+
累計專利
技術(shù)創(chuàng)新 -
＜1小時
服務(wù)響應(yīng)時間
售后保障 -
10
全球10大支持中心
支持響應(yīng)
2024.09.26 Support
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